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以MiniTest 4500涂层测厚仪为例，其非常适合粗糙表面。例如在喷丸表面进行测量时，读数往往高于实际涂层厚度。这是由于喷丸表面的物理性质造成的。在这种情况下，建议使用统计图并计算峰值上的平均厚度，如下所示：

方法A（Rz>20µm）：该方法应用于粗糙度等级至少为20µm（0.8 mils）的表面。

1、首先按照涂层测厚仪说明书对仪器进行校准。校准时，首先使用未经喷丸处理的无涂层样品。其表面应光滑，曲率半径和基材应与后续测量对象相同。

2、再取一个未涂层但经过喷丸处理的样品（也有与后一个测量对象相同的要求，见第1点），读取大约10个读数以获得平均Xo。

3、在此之后，在相同质量的涂层喷丸样品上再读取约10个读数，以产生平均值Xm。

4、差值（Xm-Xo）±s给出了峰值上涂层厚度（Xeff）的平均值，其中“s”是两个值Xm和Xo的较高标准偏差：Xeff=（Xm-Xo）±s

这样就得到了相对精确的Xeff涂层厚度。